2015全國表面分析科學與技術應用學術會議召開

2015年5月15日，2015年全國表面分析科學與技術應用學術會議在寧波召開。

會議現場

2015年全國表面分析科學與技術應用學術會議由高校分析測試中心研究會、全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會、北京分析測試協會表面分析專業委員會主辦，中國科學院寧波材料技術與工程研究所、國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心協辦。2015年全國表面分析科學與技術應用學術會議為期兩天，80余名從事表面分析技術研究與應用的研究人員參加了會議。

中國科學院寧波材料技術與工程研究所副所長李潤偉致辭

此次會議承辦方中國科學院寧波材料技術與工程研究所副所長李潤偉致辭歡迎各位研究人員的光臨。據李潤偉介紹，寧波材料技術與工程研究所的發展歷程。2004年，中國科學院與浙江省人民政府、寧波市人民政府三方簽署協議，決定共建中科院寧波材料所。2007年寧波材料所順利通過驗收并正式揭牌，組建了磁性材料與機電裝備、高分子與復合材料、功能材料與納米器件、表面工程、燃料電池與能源技術、特種纖維6個事業部。2009年寧波材料所二期建設啟動，將研究領域從原先的材料領域進一步拓展到新能源和先進制造領域。經過十年發展，目前寧波材料所基本建成了一個既滿足自身發展需求又積極為地方企業服務的科技支撐平臺，整個平臺儀器設備總值約3億元;建成12.9萬平方米科研大樓與實驗室，建設了碳纖維制備國家工程實驗室、發改委磁性材料科技創新服務平臺、等一批科研平臺，為科研工作順利開展提供了保障。

清華大學朱永法教授主持會議

清華大學朱永法教授指出，2015年全國表面分析科學與技術應用學術會議旨在推動表面分析科學與應用技術的快速發展，加強同行之間的交流合作，展示相關的新成就、新進展;建立表面分析的交流平臺，形成自由研討的學術氛圍，讓思想碰撞出火花，并共同提升理論與技術水平，促進表面分析科學研究隊伍的壯大。

本次會議共有4個大會報告、12個邀請報告、14個口頭報告，另外，島津/Kratos、高德英特/ULVAC-PHI等儀器設備公司在會議現場展示了相關技術資料。

其中，會議天進行了3個大會報告，分別是：

報告題目：Interface Engineering for 2D Materials Based OptoelectronicDevices

報告人：陳偉副教授/新加坡國立大學

陳偉副教授目前主要關注于低維分子量子結構、有機光電器件、石墨烯及復合材料的界面問題，以及其在分子器件、有機太陽能電池、納米催化等方面的應用。在此次報告中，陳偉副教授利用表面分析技術研究了二維材料石墨烯、黑磷功能化調制界面反應機理等問題。

報告題目：Chemistry with a Tiny Hammer

報告人：鄭直教授/許昌學院

鄭直教授在國際上首次提出了一個Chemistry with a tiny hammer的全新化學反應機制來設計和實現表面高分子聚合反應。與常規的濕法化學過程來制備交聯的聚合物薄膜不同，這種路線不會用到任何引發劑、添加劑及催化劑等，屬于環境友好型制備反應;整個過程只需用團體業務遍及超過130 個國家到動能為幾個eV 的質子束來實現干法化學合成，可選擇性導致C-H 鍵斷裂，從而能夠適應各種分子器件和醫用材料等的制備和改進。可在單晶硅片和其它半導體器件上制備得到聚苯乙烯、聚丙烯酸、聚乙烯醇、聚氧乙烯、聚甲基丙烯酸N，N-二甲氨基乙酯等交聯的超薄聚合物薄膜，通過對反應能量和劑量的控制，表面官能團能得到很好保護，解決了聚合物薄膜制備以及改性過程中的節能、聚合物表面官能團的保護等技術問題。

報告題目：The applications of large Ar cluster beams再進行對實驗機精度找正 in XPS

報告人：Dr. Christopher James Blomfield/Kratos, UK

Kratos公司位于英國曼切斯特，現在是日本島津公司的全資子公司。Kratos是世界上早生產商品化利用專項建設基金X射線光電子能譜的廠家之一。2014年5月，Kratos推出了新型的XPS譜儀Axis Supra，并在短短的兩個月的時間內，成功地在范圍內銷售了6臺Axis Supra型XPS譜儀。此次報告中，Christopher James Blomfield/博士介紹了由于單原子離子源用于軟物質例如聚合物的深度剖析和表面清潔時受到限制。而氣體團簇離子源的離子束減少了進入樣品表面中的能量，從而降低樣品損傷。報告指出，氣體團簇離子源是進行深度分析有機物和聚合物而不破壞其化學狀態的有效工具。

汕頭大學王江涌教授、清華大學姚文清工程師、上海交通大學 鄒志強教授、石油化工科學研究院邱麗美工程師、高德英特科技有限公司魯德鳳、ULVAC-PHI Dr. Takuji Shibasaki、寧波大學譚瑞琴研究員、四川大學田云飛博士、中國計量科學研究院王海博士也分別做精彩報告，介紹了X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質譜、輝光放電光譜、掃描探針顯微鏡等表面分析技術在各領域的應用。

與會人員合影

2012年，清華大學分析中心、國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心組織召開了屆全國表面分析科學與技術應用學術會議，此后該會議每年舉行一次。今年是該會議第四次舉辦。

表面科學是上世紀60年代后期發展起來的一門學科，目前已經成為國際上為活躍的學科之一。材料表面的成分、結構、化學狀態等與內部有明顯的不同，而表面特性對材料的物理、化學等性能影響很大。隨著材料科學、化學化工、半導體及薄膜、能源、微電子、信息產業及環境領域等高新技術的迅猛發展，對于表面分析技術的需求日益增多。同時，由于近幾十年超高真空、高分辨和高靈敏電子測量技術的快速發展，表面分析技術也有了長足進步。目前，已經開發了數十種常用的表面分析技術，如X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質譜、輝光放電光譜、掃描探針顯微鏡等。國內表面分析技術起步于80年代，廣泛應用于基礎科研、先進材料研制、高精尖技術、裝備制造等領域。

撰稿：劉豐秋

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